NEC、組込み機器内のソフト品質をPCで解析できるリモートシステムを開発〜 Eclipse上に構築

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2009.3.25（水）13:15

　NECは25日、車載機器やデジタル家電をはじめとするメディア処理装置などの組込み機器内で動作するソフトウェアの品質を簡単に解析し、組込みシステムの開発期間を大幅に短縮するリモート品質解析システムを開発したと発表した。

　このシステムは、従来は、解析情報の取得制御が難しかった組込み機器の品質情報を取得し、リモート接続したPC上で表示・解析するシステムとなる。音楽プレイヤー向けソフトを使った実験では、本システムの利用により、ソフトウェア品質解析プロセスを従来の1/2程度に短縮できたという。

　具体的には、メモリ管理やカバレッジ解析、テスト自動化などを接続されたホストPCから制御し、結果を転送表示する「収集情報転送エージェント」により、ソフトウェアのメモリ管理状況の確認、テストプログラムの生成、テストプログラムに対するテスト完了率を示すソフトウェアコードカバレッジなど品質解析情報の取得が可能となっている。また組込み機器に対する品質解析情報収集を組込み機器に接続したPC上において、ボタン操作を中心とした運用で、制御、収集、解析表示に対応する。なお品質解析を行うシステムは、標準的なソフトウェア開発環境であるEclipse上に構築されており、今後の拡張や他システムとの連携・協調が容易となっている。

　今後は、この性能解析システムの低コスト化と高速化を図り、NECが製品化しているEclipseを利用した組込みソフトウェア統合開発ツール「SDDS/E」への導入に向けて、さらに研究開発を進めていくとのこと。なお、NECは今回の成果を、3月23日から26日まで米国Santa Claraで開催される、Eclipse関連の国際会議「EclipseCon2009」において25日に発表する。

《冨岡晶》