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設定した“寿命”どおりに自動的にデータが壊れるメモリシステム、中央大が開発

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実験結果（指定した7日目に画像データが解読不能に）
実験結果（指定した7日目に画像データが解読不能に） 全 3 枚
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　中央大学（竹内健・理工学部教授グループ）は18日、データの“寿命”をあらかじめ設定することで、指定した時点で自動的にデータが壊れるメモリシステムを開発したことを発表した。

　この新システム「PP-SSSシステム」（Privacy-protection Solid-State Storage System）では、半導体製品であるフラッシュメモリを記憶媒体として採用。フラッシュメモリのエラー確率が高精度で予測できる特徴を利用し、データにエラーを意図的に注入することで、データに“寿命”を設けるというものだ。これにより、SNSなどの書き込みにおける「忘れられる権利」を実現できるという。

　データ自体が壊れるため、メモリデバイス自体に物理的損傷はなく、そのまま利用できる。また“寿命”の長さも、1週間、1か月、3か月、1年など、柔軟に設定可能だという。現時点はコンセプトを提案・実証した段階のため、今後はメモリのばらつきの抑制など、技術課題を克服する方針だ。

《冨岡晶》

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